紫外可见分光光度计怎么校准，紫外可见分光光度计校准步骤

紫外可见分光光度计校准步骤

系统基线：

系统基线的校准相对简单样品室一般不放样品，只校准光学系统；如果一定要用全频段测量，那就另当别论了。同时，应该指出的是：系统基线不需要经常校正，半个月或一个月校正一次即可。对于某些仪器，过于频繁的系统基线校正会导致严重的基线漂移。

正确的纠正方法是：

两个比色皿装满空白溶液，分别放在样品和参比光路上，校准波长范围大于分析波长范围；例如、分析设置范围为220纳米-500nm，那么校正波长应该设置为210nm-510nm；等到校准完成后，再将波长设置回原来的220纳米-500nm范围。

这种校正方法的优点是：

如果校正波长不同于分析波长*一致，校正后的基线两端可能有较大的噪声；如果修正范围大于实际分析范围，在夹头去尾后可以提高分析精度。许多用户经常不 不知道或者忽略这个修正方法。

值得注意的是，有些仪器操作人员在做基线校正时，并没有将参比溶液放在参比侧，即以空气作为参比对照。这种方法在可见光区对某些样品有时可能影响不大，但在紫外区会有明显的效果。严格来说，以空气为参比测得的结果并不是真正的校正光谱。

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